ToF-SIMS ist auf dem Vormarsch.
Unsere Einführung in Tof-Sims befasst sich mit einem der spannendsten Anwendungsbereiche für schnelle ADCs und TDCs.
Die TOF-SIMS-Analysetechnologie (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) hat sich in den letzten Jahren erheblich weiterentwickelt und hat sich in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen zunehmend verbreitet.
TOF-SIMS kommt beispielsweise in den Materialwissenschaften, der Chemie, der Biologie und den Geowissenschaften weit zur Anwendung. Universitäten und Forschungsinstitute nutzen die Technik in großem Umfang für Oberflächenanalysen, 3D-Bildgebung und Tiefenprofilierung.
Insbesondere die räumliche und massenspektrometrische Auflösung von TOF-SIMS wurde im Laufe der Zeit stark verbessert. Die Anwendung hat sich von reinen Oberflächenanalysen bis hin zu komplexeren 3D-Bildgebungsverfahren und der Analyse nanostrukturierter Materialien weiterentwickelt.
In der Industrie ist eine Echtzeitüberwachung über ToF-SIMS jetzt im Rahmen der Qualitätskontrolle möglich. TOF-SIMS wird zunehmend in Kombination mit anderen Analysetechniken eingesetzt, was zu neuen interdisziplinären Anwendungen geführt hat. Beispiele hierfür sind der kombinierte Einsatz von AFM, Raman-Spektroskopie und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie).
In unserem Artikel erklären wir nicht nur, wie moderne ToF-SIMS Geräte funktionieren, sondern geben auch einen Überblick über die aktuellen Anwendungsbereiche und diskutieren die Stärken und Grenzen dieser Messmethode.
